現今各種資訊產品功能不斷提升，傳輸速度也越來越快，對於相關測試的品質和效率都提升了更高的挑戰，測試的規格要求變得更加複雜嚴謹，需要考慮更多因素和情境，然而對於開發或生產的時程卻不斷被壓縮，廠商需要在更短的時間內，完成更多工作。因此要如何在有限的時間內，有效地完成所有測試、確保測試的準確性和可靠性，便成為重要且迫切的課題。
你還在進行人力測試嗎？潛在風險不可不慎
當前的產品都具有多種複合式的功能，因此其驗證測試也變得更複雜，若是只依靠人為的操作測試，將可能面臨操作不當產生失誤，或測項漏測等風險，同時測試的速度也無法有效提升。
除了產品功能複雜化外，高頻或高速的特性也是一大考驗，許多高頻及高速的產品人力無法進行測試，或是人力測試將會耗費大量時間，而人力的測試也可能導致結果的不一致性。百佳泰針對上述的潛在風險，開發出適合各種介面的治具以及自動化解決方案，將能讓廠商有效省下時間及精力，並使產品品質更精良。
自動化克服測試難題
(1) USB-C® – Tx & Long Channel Rx Precet. Test Fixture
執行Intel USB-C 3.1 Tx測試需要使用兩個不同的治具，個別對應UFP和DFP，但最令人困擾的是往往用幾個月就壞了，也無法維修。但百佳泰所研發的Pre-Cert治具，將兩片的功能整合，只要簡單的切換，不須一直交換治具，不僅大幅降低損壞機率，也使測試更省時有效率。
(2) PCIe®自動化量測系統(APMS)
百佳泰提供業界首創的PCIe自動化量測系統 (Allion PCIe Multiport System，APMS)，可大幅加速PCIe量測時間並縮短週期，提升了測量設備的生產力和周轉率。APMS自動化量測系統的特性如下：
- 比手動測試快5倍的速度，可以節省80%的時間，除了節省設備及人力成本外，在time to market上也能更有競爭力。
- 具有8 lanes Tx/Rx 自動切換，無需手動置換Cable及Terminator，可避免每次換lane時的開關電源，節省時間並降低插拔損耗
- 可靈活的配置選擇。 Generation, Lane and Preset mode都可以依需求勾選
- 一致性有品質的量測結果，避免人為失誤而產生的結果誤差
- 除待測物為系統端外，亦可客制化開發裝置端的量
Faster, Easier, Better！百佳泰治具服務
百佳泰具有設計經驗豐富的RD團隊，能以高頻、自動化及客製化為基礎，協助客戶製作符合需求的治具，達到以下目的
Faster：
自動化的設計使測試速度加快，可將測試時間延長到全天。
Easier：
客製化的設計使客戶在操作使用上更是簡易便捷。
Better：
以高頻、自動化及客製化為基礎製作的治具能減少人為疏失，得到正確的結果。
百佳泰獨家開發、獲多項技術協會認可，成為認證指定測試治具。無論是高頻量測還是自動化治具，皆能針對各項標準或是特殊規格，提供客製化治具設計服務，更累積多達百件以上的高頻治具設計案量及經驗，讓您開發驗證事半功倍！
若您有任何需求或疑問，歡迎與百佳泰聯繫！
