前言
相信大家都有替手機或電子產品充電的經驗，而在進行充電的過程中我們往往都會遇到手機或電子產品充電過熱的狀況，然而這個發熱現象有可能來自於電池或是充電迴路的IC；又或者是另一個比較少人特別留意的元件，那就是充電用的連接器！(以下簡稱Connector)
Connector溫度過熱的4大潛在風險
一旦connector的溫度過熱，對電子產品可能造成的影響主要可分為以下4大風險：
Connector溫度過熱潛在風險1：電氣性能降低
在高溫環境下，connector的電氣性能可能會受到導通電阻增加、信號傳輸損耗增加等各種影響，而這些現象都可能導致connector的功能受損或無法正常工作。
Connector溫度過熱潛在風險2：材料膨脹不均
connector中所使用的材料在高溫下可能會膨脹，如果不同部位材料的膨脹率不一致，就很有可能導致connector的結構變形或破裂，進而影響connector的可靠性和耐用性。
Connector溫度過熱潛在風險3：導熱不良
connector在高溫下可能會產生大量熱量，如果connector的散熱設計不良或材料的導熱性能不佳，極可能會導致connector溫度升高速度過快，從而影響connector的性能和壽命。
Connector溫度過熱潛在風險4：焊接問題
connector中的焊接點在高溫下可能會受到應力和熱膨脹的影響，這將容易導致焊接點斷裂或鬆動，進而對connector的連接可靠性產生負面影響。
上述的connector潛在風險不僅會大大增加產品故障或損壞的可能性，造成使用者在產品體驗大打折扣，嚴重者甚至引起火災，威脅到消費者生命財產的安全。
Connector溫度過熱問題如何改善？
針對connector發熱問題，USB協會設計了一套Connector溫升測試，其目的是為了評估Connector在充電過程中的溫度變化情況。而這種溫升測試除了可以檢驗connector在高功率充電期間產生高溫下的性能和可靠性，更可同時確保其能夠正常運作，不會因溫度升高而損壞或失效。
有了溫升測試這項利器，我們即可針對connector的耐熱性能、溫度穩定性、導熱性能等諸多特性來進行相關評估，並確保其能夠在高溫環境下長時間穩定運行。此外，溫升測試還可以用來驗證connector的設計和材料的選擇上是否符合相關的溫度要求與標準。
專家怎麼做？
百佳泰透過Power supply和E-load來穩定輸出測試電流給connector，並使用DAQ即時記錄connector的溫升狀況，結合以上儀器來快速達到模擬connector充電的使用情境，確保其在使用過程中的溫度變化符合USB協會的規定。
Connector溫升測試：實測案例解析
為方便大家進一步了解，接下來我們列舉兩個USB認證Fail的例子如下：
案例1：Connector本身材質影響，導致USB認證無法通過
Connector的LLCR值若小於30Ω，對於溫升測試上比較能達到USB協會所規定△30℃(溫升值減去室溫_23~25℃之間)。由於阻抗過高會增加消耗的功耗，進而促進溫度的提升。
案例2：客戶提供的測試板不符合規範，導致USB認證無法通過
測試治具Layout線不可太細。這是因為太細的Layout線會因為阻抗關係使得溫度提升，下圖以USB協會所規定Layout線尺寸和實際樣品Layout線太細為例。
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憑藉其業界領先的高頻高速量測能力以及累積超過30年的專案經驗，百佳泰作為USB協會官方授權的認證測試實驗室，持續為USB與線纜連接器相關的產品客戶帶來全方位的客製化技術支援。不論身處在哪種產品階段，百佳泰都能協助客戶提升產品品質、優化生產效率，提供更快速、更便利，同時更加完善的整合諮詢服務與解決方案。
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