效率、穩定、精準三者兼具！百佳泰測試治具帶你掌握高速量測的黃金方法論
在高頻高速電子領域中，要確保精準且可靠的訊號量測變得越來越具有挑戰性。其中訊號完整性、阻抗匹配與電磁干擾（EMI）屏蔽都是獲得準確測試結果的關鍵因素。若沒有合適的治具協助，除了可能導致量測數據失真，產生代價高昂的重新設計成本，甚至無法符合標準規範。 隨著高速資料傳輸需求的日益提升，舉凡像是 PCIe Gen 6、High-Speed Ethernet、SAS 和 MCIO 等技術皆需要更高精度的量測解決方案。這些高速介面運作於極高頻率下，使得訊號完整性驗證成為通過產業標準的關鍵。由於訊號損耗、反射與電磁干擾帶來重大挑戰，因此需要高度客製化的測試治具來最小化失真、維持量測準確性。 百佳泰除了提供協會認可的標準化治具外，亦專注於設計符合客戶需求的客製化測試治具。我們針對各式應用需求，如 PCIe Gen 6、High-Speed Ethernet、SAS、MCIO、RF 測試等高速數位介面提供專業治具設計服務。從最小化訊號損失、最佳化接地設計，到確保量測重現性，百佳泰採用先進的工程技術、優質材料與精密製造工藝，提供高性能治具，協助客戶加速驗證流程並提升測試可靠性。 [...]
