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設計出來的高頻連接器驗證結果讓人超傻眼? 深度探討高頻特性所帶來的潛在風險(上篇)

科技趨勢觀察與產品設計挑戰 高科技時代有兩個重要的趨勢正在影響現今的科技產品,一個是產品速度要更快、另一個是體積要更小。此趨勢下,當在設計高速、高頻及體積小的產品時即會面臨非常多的挑戰,尤其在連接器的設計領域中,要設計體積小的高頻連接器更是困難,因為高頻本身的特性即是衰減大及干擾大。 想像一下!當機構工程師辛辛苦苦從軟體模擬、接著實作出了一個高頻連接器的樣品,但最終驗證連接器的高頻特性的結果為Fail,工程師接獲此一消息,如同晴天霹靂!下一刻便會懷疑到底是模擬出問題、實作出問題還是量測出問題?若是有經驗的機構工程師通常會對自己的模擬及實作有信心,因此便會懷疑量測的部分,但量測的關鍵因素又很多,不一定有辦法找出問題。 高頻連結器容易被忽略的潛在風險報你知! 百佳泰累積了豐富的客戶產品量測經驗,分析及歸納出一個大家時常會忽略的潛在風險:PCB載板會影響高頻連接器的特性。 當量測連接器的高頻特性時,必須透過PCB載板與儀器連接,PCB的特性是否能被完整地去嵌入(De-embedded)則是判斷PCB設計與製作的好壞。而其中大家皆會忽略的基本判斷條件:2xThru 其IL與RL的交叉,理想上是不要交叉為好。 因此,製作連接器的PCB高頻治具時,建議不能只是找一般的PCB Layout 設計公司製作,否則,找錯了公司只是浪費時間(一項治具完成時間只少4週)或浪費金錢(找了一家低價位,但是沒設備或沒經驗),一切又得重頭過來一次。 對於以上潛在風險,百佳泰具有以下條件,能夠避免上述的問題並且能夠提供完善的顧問服務: 熟悉各種產業高頻連接器的規格,同時也是眾多協會的認證實驗室 具有豐富的設計及量測經驗 擁有完整與規格相符的量測設備 Faster, [...]

充電器發燙,充不了電?從實驗數據解析高功率多孔充電器設計與潛在風險

市場上多工充電器類型琳瑯滿目,從行動電源至多孔充電器等充電法寶推陳出新,輸入/輸出分別從小至支援2 x USB到大至支援4x USB,部分行動電源甚至支援自帶線或是交流電源輸入。然而,當越來越多消費者選購此類型產品時,卻時不時聽聞充電過程中產品過熱融化、燒毀和爆炸等至關生命及財產安全的消息,令消費者擔心這些產品到底是否可以在無人注意的情況下放心使用;除此之外,對於通路跟品牌廠商而言,該如何應對與規避這些風險以提升市場銷售?為此,百佳泰做為業界唯一一家同時具備USB-IF認證和客製化驗證專家的實驗室,具有可程式控制的環境模擬實驗室,且擁有與各大充電器品牌及製造商合作過大量的測試案例經驗,將常見的產品設計及潛在應用風險列舉如下:   您不可不知, Multi-port Power Bank & Charger的設計及潛在風險與解析   充電器的溫控能力不足可能導致使用者燙傷或線材接口的熔毀 GaN技術充電器是充電器的新寵,優點為體積非常小巧輕便,缺點則是使用後摸起來溫度略高,針對多孔充電器的產品,如何在其外觀設計、溫控及安全性做出平衡為一項重要考量,且為產品穩定與安全中很重要的一環測試.百佳泰環境模擬實驗室在設定23°C環境溫度下進行了充電器的溫度控制能力,包含測試充電器於長時間使用時的溫度穩定性,確保其在正常操作範圍內工作,並避免過熱問題。 以下是針對某款GaN技術充電器,在環境溫度為23°C的測試條件下,當充電器的所有端口都接滿設備並進行充電時,外殼上的最高發熱源量測溫度如下: [...]