HALT高加速壽命試驗：快速揭露產品設計缺陷的極限測試推進器
在強調可攜性(portable)的年代，人稱「二合一筆電」的平板筆電便成為許多消費者趨之若鶩的3C產品。說到平板筆電，不論是其雙向連接設計，面板與鍵盤底座可分離的獨特功能，再加上兼具筆電模式、平板模式、翻轉模式及帳篷模式等多種使用方式，讓使用者在不同的使用情境下都能隨意調整，輕巧靈活的便利性也為多數消費者提供了絕佳的使用體驗。然而也正是這樣的獨特設計，潛藏著傳統筆電供應商在產品設計上容易忽視的潛在風險。 平板筆電的耐用度風險 一般二合一平板筆電的面板與鍵盤底座主要採用Pogo Pin或磁吸的連接方式來傳遞訊號，若是出現設計品質不佳或是選料與組裝等前期問題，就容易導致面板與底座間的接觸不良，進而影響訊號溝通，造成鍵盤底座的功能失效（包含鍵盤、硬碟、I/O擴充槽等皆無法使用），最終引發客訴問題。然而麻煩的是，類似這樣的產品耐用度風險往往無法在開發階段被有效地發現，而是要等到產品上市一段時間後才會逐漸浮現。 HALT高加速壽命試驗實例分享 針對這類型的產品耐用問題，百佳泰專業顧問團隊建議廠商可進行HALT高加速壽命試驗（Highly accelerated life test）來及早發現及預防產品設計上的潛在缺陷。HALT是一種能夠在產品設計初、中期快速檢視產品目前在設計上的優缺點，透過設置逐級遞增、加嚴的環境應力，挖掘產品在不同階段的設計上、製造上及以及使用上等產品弱點及相關缺陷。 HALT試驗流程圖 [...]
