HALT高加速壽命試驗：快速揭露產品設計缺陷的極限測試推進器
在強調可攜性(portable)的年代，人稱「二合一筆電」的平板筆電便成為許多消費者趨之若鶩的3C產品。說到平板筆電，不論是其雙向連接設計，面板與鍵盤底座可分離的獨特功能，再加上兼具筆電模式、平板模式、翻轉模式及帳篷模式等多種使用方式，讓使用者在不同的使用情境下都能隨意調整，輕巧靈活的便利性也為多數消費者提供了絕佳的使用體驗。然而也正是這樣的獨特設計，潛藏著傳統筆電供應商在產品設計上容易忽視的潛在風險。 平板筆電的耐用度風險 一般二合一平板筆電的面板與鍵盤底座主要採用Pogo Pin或磁吸的連接方式來傳遞訊號，若是出現設計品質不佳或是選料與組裝等前期問題，就容易導致面板與底座間的接觸不良，進而影響訊號溝通，造成鍵盤底座的功能失效（包含鍵盤、硬碟、I/O擴充槽等皆無法使用），最終引發客訴問題。然而麻煩的是，類似這樣的產品耐用度風險往往無法在開發階段被有效地發現，而是要等到產品上市一段時間後才會逐漸浮現。 HALT高加速壽命試驗實例分享 針對這類型的產品耐用問題，百佳泰專業顧問團隊建議廠商可進行HALT高加速壽命試驗（Highly accelerated life test）來及早發現及預防產品設計上的潛在缺陷。HALT是一種能夠在產品設計初、中期快速檢視產品目前在設計上的優缺點，透過設置逐級遞增、加嚴的環境應力，挖掘產品在不同階段的設計上、製造上及以及使用上等產品弱點及相關缺陷。 HALT試驗流程圖 在百佳泰過往的合作案例中，就曾經協助廠商的二合一平板電腦進行高加速壽命測試驗證。當產品隨著步階式與複合式應力的施加，我們發現轉軸左右兩端的塑料導軌固定不良、面板與鍵盤底座磁吸的部分無法吸附，進而造成底座鍵盤無法打字、硬碟無法辨識的問題，必須調整角度讓磁吸部分確實吸住後，才能正常使用。此外，我們也發現螢幕、鍵盤、電池等零組件上存在著組裝及選料等相關問題。為此，百佳泰利用微型應變感測器黏貼在要觀測的產品機構表面上觀察其微量型變，包含透過電阻的變化並使用量化來呈現機構的變化，同時也監測housing, [...]
