PCIe技術的演進與挑戰
PCIe(Peripheral Component Interconnect Express) 技術作為當今電腦系統的關鍵互連技術，其高頻、高速的特性對系統性能和可靠性提出了極高的要求。隨著PCIe 5.0、6.0和7.0等新一代標準的推出，數據傳輸速率不斷攀升，對電氣訊號的完整性、穩定性提出了更嚴苛的挑戰。
• 高頻高速：更高的數據傳輸速率意味著訊號頻率更高，對訊號完整性、時序要求也更高；PCIe 5.0、PCIe 6.0每通道的數據傳輸速率分別為32 Gbps和64 Gbps，而PCIe 7.0每通道的數據傳輸速率高達128 Gbps。
• 多樣性應用：PCIe不僅應用於傳統的電腦系統，更拓展到消費電子、汽車、工業等多個領域，對產品的可靠性、穩定性要求各不相同。
• 訊號複雜度：高速傳輸、多種訊號類型以及複雜的編碼方式，使得PCIe訊號的量測變得更加複雜。
一定要進行PCIe電氣訊號量測的主要原因
• 確保訊號完整性：PCIe訊號在高速傳輸過程中容易受雜訊、串擾等因素的影響，導致訊號完整性下降，甚至產生錯誤。
• 及早發現潛在問題：精準的量測可以幫助識別和解決潛在問題，避免系統在實際應用中出現故障或性能問題。
PCIe測試治具的重要性
為了應對PCIe技術發展帶來的挑戰，PCIe測試治具扮演了至關重要的角色。測試治具作為一種協助PCIe產品測試的工具，能夠提供精準、可靠的量測環境，確保測試結果的準確性。
• 提供標準化測試環境：測試治具根據PCIe標準規範設計，能夠提供符合標準要求的測試環境，確保測試結果的可比性。
• 提高測試精度：測試治具搭配高精度量測儀器，能夠精確捕獲PCIe訊號，提高測試精度。
PCIe測試治具與電氣訊號量測是確保PCIe系統性能與可靠性的關鍵。透過精準的量測，可以及早發現並解決潛在的問題，提高產品的品質和可靠性。
客戶的問題與難處
解析客戶痛點— 多樣化PCIe Form Factor測試困境
客戶是一家橫跨消費性PC和伺服器領域的科技巨擘。為確保產品的卓越性能和可靠性，他們計畫在內部建置高頻的PCIe測試環境。然而，隨著PCIe技術的快速發展，以及客戶產品線的多元化，他們在產品導入PCIe 5.0規格後的測試方面遭遇了前所未有的挑戰。
找出問題點：
- Form Factor限制：PCIe協會在PCIe 5.0上現行的CEM標準測試治具無法滿足客戶多樣化的PCIe form factor需求，如M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等。這些form factor缺乏專用測試治具，導致測試工作受阻。
- 開發自製治具造成的測試延遲：由於缺乏合適的測試治具，客戶不得不評估自行開發治具，但這會耗費大量時間和人力，嚴重影響產品的上市時程。
- 測試數據不準確：自行開發的治具可能導致測試數據不準確，無法真實反映產品的性能，增加產品上市後的風險。
- 成本增加：自行開發治具，不僅消耗研發資源，更增加了成本的支出。
具體需求分析：
客戶迫切需要一套能夠滿足以下需求的PCIe測試解決方案：
- 全面的Form Factor支援：需涵蓋M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多種PCIe form factor，提供一站式的測試治具解決方案。
- 確保產品品質：需要透過合適的測試治具，準確檢測各種form factor下的產品訊號品質，確保測試數據的準確性，保證產品在市場中的競爭力。
- 降低成本：避免需要自行開發的成本，減輕成本負擔。
未能有效解決問題，您的產品將面臨三大影響：
若無法有效解決上述問題，客戶將面臨以下風險：
- 產品上市延遲：無法正確量測將直接影響產品上市時程，導致市場競爭力下降。
- 產品品質問題：不準確的測試數據可能導致產品在市場上出現性能問題或可靠性問題，損害品牌形象。
- 開發成本增加：自行開發治具將增加研發成本。
如果不能有效解決這些問題，客戶將面臨測試進度滯後、產品品質無法保證、以及市場競爭力下降等風險。因此，對於支援多種form factor的PCIe測試治具的迫切需求是他們最大的挑戰。
百佳泰PCIe測試治具解決方案 協助客戶解決各種問題
– 全方位的Form Factor支援，為客戶量身打造的完美解答
針對客戶在PCIe測試中遇到的挑戰，百佳泰是全球首家推出涵蓋所有PCIe form factor的測試治具的企業。我們提供包括M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多種form factor的PCIe測試治具解決方案，旨在滿足客戶的全面測試需求。這些治具經過精心設計，能夠即刻投入使用，無需客戶自行開發，確保測試過程中不會受到設備限制，全面覆蓋其產品測試需求。客戶在導入我們的治具後，成功解決了他們面臨的測試挑戰。
百佳泰獨家測試治具，給您品質信賴的保證
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憑藉百佳泰深耕產業多年的經驗，我們獨家開發的PCIe測試治具解決方案，能為客戶帶來三大核心優勢：
Faster：加速測試流程，縮短上市時間
- 全面覆蓋各種form factor：
- 全面支援M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等不同form factor，滿足客戶各種設計驗證需求。
- 即時銷售與交付：
- 經過嚴格驗證的測試治具可立即交付使用，無需等待開發時間。
- 提高測試效率：
- 使用百佳泰提供的專用測試治具，客戶除了能夠提高測試效率，更能夠確保各種form factor的PCIe接口都能得到準確的測試。
- 縮短產品上市時間：
- 避免自行開發測試治具造成的延遲，快速啟動測試流程。
Easier：優化測試，降低成本
- 減少開發與部署成本：
- 客戶無需投入資源自行開發設計測試治具，這大大降低了開發和部署成本。我們提供現成治具即刻解決客戶的測試需求，避免因自行開發而帶來的高成本和技術風險。
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- 百佳泰PCIe治具設計精良，採用兩倍線校正技術進行開發，客戶無須同時購買Compliance Load Board (CLB)跟Compliance Base Board (CBB)治具，即可完成校正。
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Better：業界認可治具，提升測試品質
- 高精度設計：
- 治具經過精確設計，強化SMPM連接器結構，以及具彈性的線纜配件，可支援至40GHz，確保測試數據的準確性和一致性。
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- 我們的治具已經被多家大品牌、製造商和晶片供應商採用，用於他們的內部測試。這些認可證明了我們治具的可靠性和專業性。
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- 滿足各種PCIe form factor的專業測試需求，無遺漏之憂。
- 百佳泰同時開發了專用於校準和測量主機/系統的CLB治具，以及專門用於校準和測量Add-in Card (AIC)的CBB治具，提供了對各類產品測試需求的全面支持。
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