Category Archives: System文章

USB產品充電過熱的4大潛在風險,Connector溫升測試實例解析
USB產品充電過熱的4大潛在風險,Connector溫升測試實例解析

前言 相信大家都有替手機或電子產品充電的經驗,而在進行充電的過程中我們往往都會遇到手機或電子產品充電過熱的狀況,然而這個發熱現象有可能來自於電池或是充電迴路的IC;又或者是另一個比較少人特別留意的元件,那就是充電用的連接器!(以下簡稱Connector)   Connector溫度過熱的4大潛在風險  一旦connector的溫度過熱,對電子產品可能造成的影響主要可分為以下4大風險:   Connector溫度過熱潛在風險1:電氣性能降低 在高溫環境下,connector的電氣性能可能會受到導通電阻增加、信號傳輸損耗增加等各種影響,而這些現象都可能導致connector的功能受損或無法正常工作。 Connector溫度過熱潛在風險2:材料膨脹不均 connector中所使用的材料在高溫下可能會膨脹,如果不同部位材料的膨脹率不一致,就很有可能導致connector的結構變形或破裂,進而影響connector的可靠性和耐用性。 Connector溫度過熱潛在風險3:導熱不良 connector在高溫下可能會產生大量熱量,如果connector的散熱設計不良或材料的導熱性能不佳,極可能會導致connector溫度升高速度過快,從而影響connector的性能和壽命。 Connector溫度過熱潛在風險4:焊接問題 connector中的焊接點在高溫下可能會受到應力和熱膨脹的影響,這將容易導致焊接點斷裂或鬆動,進而對connector的連接可靠性產生負面影響。   [...]

高加速壽命試驗:透過快速驗證方法輕鬆確認電子產品保固週期 - 以遊戲機為例
高加速壽命試驗:透過快速驗證方法輕鬆確認電子產品保固週期 – 以遊戲機為例

近幾年疫情推動親子關係,親子宅在家一同玩遊戲機成為熱門娛樂選項。各家遊戲機業者的產品如雨後春筍的推出,其銷售井噴式快速成長。然而,隨著後疫情時代來臨,你手邊的遊戲機在使用2~3年後,是否有遭遇過會無故當機、重開機,甚至關機嗎?這些問題主要源自於遊戲機內部的電子元件經過幾年的使用後而出現老化,導致電子元件效率差或散熱不良,進而可能造成遊戲機當機、誤動作,或重開機甚至關機。 遊戲機機身「過熱」藏潛在風險 遊戲機內部使用高速運轉的電子元件(如:CPU、GPU、記憶體),加上螢幕和擴音器等元件長時間運轉,其功耗相對較大,因而導致遊戲機溫度隨之上升,當產生的熱量無法有效地散出時,機身熱感會更加明顯,嚴重時可能甚至會熱當機。對於講求高效能3D手機遊戲體驗的不少終端使用者,他們往往會將畫質調到最高,有些遊戲機即使不用調高畫質也十分耗處理器,若又再加上這些調整時就更會造成遊戲機不少的負擔,溫度通常也會容易升高。這種情況可與電腦上的CPU和顯示卡裝有風扇進行散熱類比。通常,每當要玩遊戲時,風扇聲彷彿噴射機要起飛聲音那樣大力運轉,是為了要防止處理晶片在高速運算時產生過高溫,因此就必須要透過風扇幫助熱量排出,然而,遊戲機內並未配備風扇,因此產生出來的熱就只能依賴機身背部散熱,如在長時間高流暢度與視覺效果的使用下,就會發現遊戲機背面明顯感覺升溫或發燙,長久下來就有可能會當機、誤動作、重開機或甚至關機。 高加速壽命試驗測試(HALT)實際案例,助確認產品保固期 百佳泰與眾多遊戲機大廠皆具合作,透過豐富的實際進測的經驗中,我們在遊戲機第一階段高加速壽命試驗測試(HALT)中發生過重新開機、自行關機,以及隨機執行APP的情況。百佳泰可以依照過去的測試經驗,提供研發工程師相對應的Root Cause以及debug方向,或更進一步提供修改設計或更換零件上的建議,進而加寬了遊戲機對環境應力的耐受性及可靠度。 當第一階段HALT測試完成後,經過研發工程師Debug後,再經過實際測試驗證確認後找到高低溫及振動極限。接著,進一步計算外在應力條件下造成的加速老化因子進行第二階段HALT Life測試。HALT Life測試旨在模擬產品在複合應力的條件下,達到保固年限的可靠度測試,以確保使用者在保固年限內可以正常使用產品。此一驗證方式的理論基礎為知名的阿瑞尼斯方程式(Arrhenius Equation)以及艾林方程式(Eyring Equation),專家團隊運用速率常數與溫度之間的關係式以及絕對反應速率理論,針對各項的外在應力所綜合演算得出加速因子,並利用了司徒頓t分布(Student’s t-distribution)來增加自信水準,此方式已實際與國際大廠配合,成功驗證在該大廠的各項3C產品上。 舉例說明:第二階段準備10個機台進行以下條件做HALT Life測試,只需要8個工作天的測試,當確認測試都沒問題時,即可確保產品有90%的信心指數能達到3年的保固。 Temperature: [...]

電腦無線效能低落如何改善?專家實測案例傳授,手把手教你Debug!
電腦無線效能低落如何改善?專家實測案例傳授,手把手教你Debug

隨著科技的不斷發展,無線功能在電腦產業中的應用已蔚為主流,無線技術的整合應用無疑為使用者帶來了極大的便利。然而,在追求便利性的同時自然也伴隨著一些潛在風險,特別是在無線效能方面;因此無線技術的可靠性絕對是一個不容忽視的問題。 舉例來說,雖然無線連接提供了更靈活的使用場景,但信號穩定性和連接可靠性卻容易受到外部干擾而產生影響。不論是電波干擾、無線信號干擾抑或是其他無線設備的競爭都可能導致連接品質上的不穩定,進而影響使用者體驗。但是能檢測出無線效能是否低落純粹只是基本功,更重要的是如何找出真正的問題所在,並且針對問題進行改善及排除。接下來百佳泰將透過真實的量測案例,帶領大家一步步地了解如何改善電腦無線效能低落的惱人問題! 電腦無線效能低落,除錯與改善實例分享 在百佳泰曾經合作的案例當中,曾有客戶的電腦產品在上市後因為無線效能不佳,遭到客戶大量客訴。客戶在面對這樣的緊急狀況時十分需要像百佳泰這樣的專業顧問團隊協助問題的定位與釐清,並且希望能夠從中給予提供第三方的客觀建議,以協助他們及早進行產品修正及調整。    Step.1 Throughput實際量測:天線的VSWR(電壓駐波比) 與Isolation(天線隔離度)  針對此次個案,百佳泰顧問團隊首先協助客戶進行Throughput的基本量測。經量測後確認,baseline的數據確實不佳;為了定位問題,百佳泰進一步進行天線的VSWR與Isolation量測,並得到以下結果。   VSWR(電壓駐波比) 量測頻率範圍為2GHz~6GHz,紅線是Wi-Fi操作頻帶,藍線與綠線分別為主天線 (Main Antenna)及副天線(Aux Antenna)。 [...]

顯示器警訊!揭示畫面異常的真相:信號反射的危機
顯示器警訊!揭示畫面異常的真相:信號反射的危機

近幾年來,隨著科技進步與高速傳輸通訊時代來臨,各種3C產品與汽車通訊物聯網快速蓬勃發展,使得高速信號傳輸在軟硬體設備之間,相對應的工作頻率與頻寬需求也越來越高,為了符合高速傳輸與規範要求,傳輸線的整體線材與連接器元件的性能要求便更加嚴格,加上導入連接器小型化的應用趨勢,使得傳輸線材本身設計與測試規格,能否執行高速信號傳輸完整性與正確性,成為目前業界所面臨的重大挑戰與能力考驗。 現今使用者選擇不同規格的傳輸線材時,需要了解與認識信號反射損失(Return Loss) ,在實際使用時可能造成的影響與困擾,如下圖所示,為信號反射的傳導路徑。 信號反射損失的潛在風險 當個人手機與顯示器或電腦端進行影音傳輸資料,要求在高速10/20/40Gbps的全雙工通訊模式下操作,以滿足高效的傳輸需求,並縮短完成任務所需的時間,這種情境下往往會因為使用到不良的傳輸線材,而引起信號反射的潛在風險,並使通訊變得不穩定!可能導致的負面影響與狀況如下:   資料傳輸效率降低 反射損失會使部分信號被反射回去而未能傳輸到目的地,這將降低整體傳輸效率,傳輸速度變慢。 訊號波形失真 反射損失可能導致訊號波形的失真,使得接收端設備難以正確解碼和處理傳輸的訊號。 訊號品質下降 信號反射可能導致傳輸的訊號品質下降,進而影響影音播放或其他高畫質媒體顯示器應用。 系統過熱效應 不穩定的傳輸可能使硬體組件工作不順暢,導致系統過熱,進而影響整體性能。 [...]