在高速傳輸的時代，百佳泰致力於PCle高速介面的開發。我們為 CEM、M.2、U.2/U.3丶EDSFF El/E3和OCP NIC 3.0個別提供了相對應的高頻測試治具。透過全方位的資源整合服務和全面性的驗證計劃，百佳泰將能夠簡化並減少您的產品開發過程。
PCI Express CBB 測試治具
為了滿足PCIe週邊裝置開發及測試的迫切需求，百佳泰研發團隊開發相對應的高頻測試模組，以滿足不同裝置Device 端的Tx/Rx電氣訊號測試需求
M.2 PCIe CBB5.0 Test Fixture
U.2/U.3 PCIe CBB5.0 Test Fixture
CEM CBB5.0 Test Fixture
OCP NlC3.0 CBB5.0 Test Fixture
PCI Express CLB 測試治具
PCIe CLB Test Fixtures是百佳泰研發團隊根據市場不同規格形式，研究開發出相互對應的高頻測試模組，可滿足不同系統 Host端的Tx/Rx電氣訊號測試需求。
